Для чего используется эталон при расчете электронограмм?

Эталон используют для определения постояннойэлектронографа.

Что такое постояннаяэлектронографа? От чего она зависит?

c- постояннаяэлектонографа

с=λL

λ ̴ 1/U

“c” зависит от длины волны (λ), которая в свою очередь зависит от ускоряющего напряжения (U), также “с” зависит от расстояния между объектом и экраном(L).

Как определить постоянную электронографа?

с=λL

c- постояннаяэлектонографа

L – расстояние от объекта до экрана

λ – длина волны

Почему в электронографии уравнение Вульфа-Брегга имеет специальный вид?

Имеет специальный вид из-за малости длин волн(λ_эл), а следовательно из-за малых

углов ϴ.

Так как λ_эл мало, значит 2sinϴ=2ϴ=tg2ϴ, tg2ϴ= R/L, а 2dsinϴ=nλ переходит или

Почему электронограммы являются неискаженными проекциями обратной решетки?

Электронограмма, полученная от монокристалла, представляет собой систему точек «точечная электронограмма», которая есть неискаженная увеличенная проекция нулевой плоскости сетки ОР, перпендикулярной первичному пучку.

При съемке на просвет используют образцы толщиной примерно 100А, поэтому узлы ОР вытянуты в направлении нормали к поверхности образца. Мозаичность кристалла также вносит существенный вклад в размытие узлов ОР(точки размываются в участки шаровой поверхности). Кроме того, сходимость первичного пучка, составляющая обычно несколько угловых минут, интерпретируется как непрерывный поворот сферы отражения на угол сходимости.

Таким образом, при неподвижном образце сфера отражения пересекает узлы ОР в плоскости, перпендикулярной к первичному пучку электронов, в результате чего на фотопластинке регистрируется неискаженная проекция этой плоскости.

Почему фазовый анализ быстропротекающих процессов легче проводить с помощью дифракции электронов?

Потому что взаимодействие электронов с веществом на несколько порядков превосходит взаимодействие рентгеновских лучей и нейтронов. Так при помощи рентгенографии нельзя определить положение атомов водорода, углерода, азота в гидридах, карбидах и нитридах переходных металлов. А с помощью дифракции электронов можно.

Почему фазовый анализ тонких пленок легче проводить с помощью дифракции электронов?

Они имеют малую проникающую способность и малая толщина вещества, необходимого для создания дифракционной картины достаточной интенсивности.

Почему фазовый анализ материалов, содержащих тяжелые и легкие атомы, легче проводить с помощью дифракции электронов?

f_эл сильнее зависит от sinϴ/λ и слабее от z, чем от f_р

f_эл- амплитуда рассеяния электрона

f_р - атомная функция рассеяния рентгеновских лучей

Атомная функция рассеяния для электронов слабее зависит от z (заряд ядра), чем для рентген.лучей. Можно определять структуру (особенно положение С и N) карбидов и нитридов металлов (Fe, Ni, Nb и даже W).