При контроле по схеме, представленной на рисунке 7.2, эталон чувствительности устанавливается со стороны кассеты с РП.

7.6.12 Длина контролируемых за одну экспозицию участков по схеме, представленной на рисунке 7.2, определяется по формуле (7.5).

7.6.13 Просвечивание кольцевых сварных соединений трубопроводов номинальным диаметром от DN 20 до DN 100 должно проводиться по схеме, представленной на рисунке 7.3. При этом изображение сварного соединения по схеме, представленной на рисунке 7.3, проецируется на плоскую кассету в виде эллипса. При невозможности получения изображения сварного шва в виде эллипса и наложении участков шва друг на друга оценка качества проводится по всему изображению без указания конкретного месторасположения дефектов.

И – источник ионизирующего излучения; П – пленка

Рисунок 7.3 – Схема фронтального просвечивания кольцевого сварного соединения через две стенки «на эллипс» на плоскую кассету
за две установки ИИИ

7.6.14 Для получения более полной информации о сварном соединении по схеме контроля, представленной на рисунке 7.3, выполняют вторую экспозицию, при которой ИИИ и кассету с пленкой перемещают на 90° по отношению к их положению на сварном соединении при первой экспозиции (вдоль плоскости сварного шва).

7.6.15 Угол между направлением излучения и плоскостью сварного соединения по схеме контроля, представленной на рисунке 7.3, должен быть минимальным и в любом случае не превышать 45°, при этом верхний и нижний участки контроля не должны накладываться друг на друга.

7.6.16 Расстояние f для схемы, представленной на рисунке 7.3, рассчитывается по формуле

. (7.7)

Эталон чувствительности при просвечивании по схеме, представленной на рисунке 7.3, должен устанавливаться со стороны ИИИ.

7.6.18 Схема контроля кольцевых сварных соединений трубопроводов с номинальным диаметром от DN 20 до DN 1400 через одну стенку приведена на рисунке 7.4.

И – источник ионизирующего излучения; П – пленка

Рисунок 7.4 – Схема контроля кольцевых сварных соединений через одну стенку

7.6.19 Расстояние f для схемы контроля, представленной на рисунке 7.4, рассчитывается по формуле

f ≥ c·S (R - r), (7.8)

где при t ≤ 100 мм и при t > 100 мм – для класса радиографического изображения А;

при t ≤ 50 мм, и при t = 50…100 мм и при t > 100 мм – для класса радиографического изображения В;

– для класса радиографического изображения С.

7.6.20 Количество участков N необходимых для 100 % контроля сварного соединения по схеме, представленной на рисунке 7.4, не должно быть менее значений, определяемых по приложению Б.

7.6.21 Длина контролируемых за одну экспозицию участков по схеме, представленной на рисунке 7.4, определяется по формуле (7.5).

7.6.22 Угол наклона оси излучения относительно нормали к пленке должен быть минимальным и не превышать 15°.

Эталон чувствительности по схеме, представленной на рисунке 7.4, должен устанавливаться со стороны ИИИ. В случае не возможности установки эталона чувствительности на объект контроля допускается чувствительность контроля оценивать на образце имитаторе.