G.2.11 Хромсодержащие материалы

 

BCS 369 Магнезитохромитовые (стандартные отклонения повторяемости приведены в таблице I.4).

 

BCS 308 Греческая хромовая руда (стандартные отклонения повторяемости приведены в таблице I.8).

 

TARJ внутренний стандартный образец CR1 хромовая руда (стандартные отклонения воспроизводимости приведены в таблице I.15)

 

G.2.12 Алюминат кальция

 

Смесь BCS 394 (33,3%) и BCS 372/1 (66,7%).

 

G.2.13 Другие

 

Допускается использовать сертифицированные стандартные образцы (CRM), не приведенные в настоящем приложении.

 

Приложение Н

 (обязательное)

 Метод межэлементных корректировок, используемых для компенсации влияний присутствующих в образце элементов, с применением для калибровки комплектов стандартных образцов (SeRM)

Н.1 Общие положения

 

В настоящем приложении приведен принцип и метод корректировки для присутствующих компонентов для рентгенофлуоресцентного спектрального анализа огнеупорных кирпичей и мертелей.

 

Н.2 Виды корректировок

 

Корректируют два вида влияний сопутствующих элементов:

 

- наложения спектральных линий;

 

- массовой абсорбции.

 

Н.3 План корректировок

 

Н.3.1 Основные положения

 

Алгоритм проведения рентгенофлуоресцентного спектрального анализа с использованием корректировок на присутствующие (раз в названии они обозначены как "присутствующие элементы") элементы приведен в Н.3.2 и Н.3.3.

 

Н.3.2 Построение калибровочных кривых и расчет скорректированных уравнений

 

Процедура расчета приведена на рисунке Н.1. Измеряют интенсивности рентгеновской флуоресценции элементов, присутствующих в дисках, для получения калибровочных кривых и корректировок дрейфа.

 

 

 

Примечание - При наличии спектральных помех от остатков смазки необходимо корректировать влияние наложений.

 

Рисунок Н.1 - Процедура расчета скорректированных уравнений

Н.3.3 Анализы неизвестной пробы

 

Скорректированные уравнения калибровочных кривых, полученные в результате проведения процедуры по Н.3.2, используют для проведения обычных анализов. Этапы процедуры приведены на схеме Н.2.

 

 

Рисунок Н.2. Процедура проведения рутинных анализов

 

Н.4 Принцип, метод и алгоритм действий

 

Н.4.1 Корректировка наложения линий

 

Н.4.1.1 Основные положения

 

Если спектр сопутствующего элемента накладывается на спектр анализируемого компонента, влияние можно откорректировать по формуле

 

, (Н.1)

 

 

где - массовая доля анализируемого компонента ;

- интенсивность рентгеновского излучения на частоте анализируемого компонента ;

 

- поправочный коэффициент наложения линий мешающего компонента на линии анализируемого компонента ;

 

- содержание сопутствующего компонента ;

 

,  и - коэффициенты калибровочной кривой.